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사파이어 웨이퍼


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ROKKO ELECTRONICS Co., Ltd.

Zipp: 663-8105
8-5, Nakajima-cho, Nishinomiya-city, Hyogo, Japan



加盟団体

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NEDIA

SiCアライアンス

SiC及び関連ワイドギャップ半導体研究会

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신소재 웨이퍼 공정을 위한 전용 공장 신규 오픈

2017년 1월~


~신소재: SiC,사파이어,LT 등 ~

● 양산화 처리 능력 증가

● 실리콘 웨이퍼 공정과 분리, 웨이퍼 수입부터 출하까지 원스톱 처리

● 공정 단축으로 비용 절감

● 2017년 3월부터 양산화 개시


화합물 웨이퍼 전용 신공장
화합물 웨이퍼 전용 신공장 3층 세정/출하 검사
 
3층 세정/출하 검사
2층 연마실
 
2층 연마실
1층 연삭실
 
1층 연삭실

신공장의 강점

 

サファイア 고강성 그라인더 사용으로 편평도, 표면조도, 가공변질층의 고품질화 달성
⇒공정 비용 삭감
     
サファイア   백 그라인딩 후의 뒤틀림 감소
⇒연삭+연마의 원스톱 공정 가능
     
サファイア   사파이어 전용 세정 장비의 도입으로 고품질 세정
(오염+파티클 감소)
     
サファイア   실리콘 웨이퍼 부문에서 양산 실적이 있는 나이프 에지 방지 가공을 사파이어 웨이퍼 박막화에도 적용 기대

패턴 SiC 웨이퍼의 씨닝 가공

 

패턴 SiC 웨이퍼 가공의 예
연삭 웨이퍼의 두께 변화(SiC 6인치 웨이퍼)

:um사파이어 웨이퍼
※TV5:1um≧ 연삭 후

 

연삭 후의 조도 비교(SiC 6인치 웨이퍼)

 

사파이어 웨이퍼 고강성 그라인더 사용으로 두께 변화/표면조도 향상.

※기존 그라인더로 표면조도 향상.

事業案内
당사는 독자 개발한 기술을 통해 원스 톱 사파이어 웨이퍼 가공(웨이퍼 연삭, 연마, RCA 세정)을 제공하고 있는 기업 중 하나입니다.

기존 반도체 툴과 장비를 활용해 사파이어 웨이퍼 가공 기술을 개발하는데 성공한 당사의 공정은 사파이어 부문에 사용되고 있는 기존 장비에 비해 처리량, 조도, 웨이퍼 사이즈의 유연성에서 뛰어난 실적을 올리고 있습니다.
사파이어 웨이퍼
사파이어 웨이퍼
● 전반사 형광 X선 표면분석장치 TREX610

전반사 형광 X선 표면분석장치 TREX610
측정 가능한 금속: 12 원소(S, Cl, K, Ca, Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn)
● Candela CS20 웨이퍼 표면 검사기

Candela CS20 웨이퍼 표면 검사기
웨이퍼 크기:3, 4, 5, 6인치
두께:300–1400 μm
 자동 스크럽 세정 장치

새 장치:
연마 후 잔류물이 알칼리성인 경우에는 흠집이나 파티클 발생의 원인이 됩니다. 자연산화막으로 코팅하기 전에 이러한 잔류물을 제거하는 것이 연마 기술의 핵심입니다.
당사의 기존 공정에서는 오퍼레이터가 수동으로 스크러빙을 실시해 웨이퍼를 한장씩 세정합니다. 현재는 인적 오류와 품질의 편차를 줄이기 위해 자동화된 세정 장비를 도입하는 등 품질 안정에 성공했습니다.

■웨이퍼 크기:4, 5, 6, 8인치
■두께:~ 100μm
■패턴 웨이퍼, MEMS 웨이퍼 등 SOI 웨이퍼
글라스 서포트 웨이퍼 등에도 대응 가능 。
● 자동 스크럽 세정 장치

자동 스크럽 세정 장치
고도의 세정 품질
● 자동 스크럽 세정 장치

자동 스크럽 세정 장치
웨이퍼 크기:4, 5, 6, 8인치 대응
석영, SiC 웨이퍼에도 효과적.
  사파이어 웨이퍼 처리
  기존 공정 롯코 공정
  다이아몬드 랩핑 연마, CMP(배치) 연삭 연마, CMP
운영 비용 높음
(메탈 휠+다이아몬드)
중간
(패드+슬러리)
중간
(다이아몬드 휠)
중간
(패드+슬러리)
요구되는 수준의 가공 기 높음 중간 높음 높음
설비 비용 높음 중간 높음 높음
가공속도 매우 낮음 낮음 중간 중간
비고 "왁스 마운팅
랩핑 테이블 조정의 어려움,
높은 가공수 필요"
"왁스 마운팅
랩핑 테이블 조정의 어려움,
높은 가공수 필요"
"진공 처킹 시스템
자동 사파이어 연삭기"
왁스리스 폴리싱
  사파이어 웨이퍼 세정 후 파티클 측정 결과
150mm사파이어 웨이퍼 세정 후 파티클 측정 결과
세정 전세정 전
스크럽 세정스크럽 세정
RCA 세정RCA 세정
세정 전   스크럽 세정   RCA 세정
1.스크럽 세정은 큰 사이즈의 파티클 제거에 효과적.
2.RCA 세정 후 파티클과 오염 제거.
3.10pieces≧0.3um
  사파이어 웨이퍼 세정 후 금속 오염
150mm사파이어 웨이퍼 세정 후 금속 오염
TXRF 측정장치
TXRF 측정장치
TXRF 측정장치
사파이어 웨이퍼 세정 후 TRFX 측정 결과

<5X1010atoms/cm2
  TXRF 측정장치
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