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ROKKO ELECTRONICS Co., Ltd.
Zipp: 663-8105
8-5, Nakajima-cho, Nishinomiya-city, Hyogo, Japan
신소재 웨이퍼 공정을 위한 전용 공장
신규 오픈
2017년 1월~
~신소재: SiC,사파이어,LT 등 ~
● 양산화 처리 능력 증가
● 실리콘 웨이퍼 공정과 분리, 웨이퍼 수입부터 출하까지 원스톱 처리
● 공정 단축으로 비용 절감
● 2017년 3월부터 양산화 개시
■ 화합물 웨이퍼
전용 신공장
3층 세정/출하 검사
2층 연마실
1층 연삭실
■ 신공장의
강점
고강성 그라인더 사용으로 편평도, 표면조도, 가공변질층의 고품질화 달성
⇒공정 비용 삭감
백 그라인딩 후의 뒤틀림 감소
⇒연삭+연마의 원스톱 공정 가능
사파이어 전용 세정 장비의 도입으로 고품질 세정
(오염+파티클 감소)
실리콘 웨이퍼 부문에서 양산 실적이 있는 나이프 에지 방지 가공을 사파이어
웨이퍼 박막화에도 적용 기대
■ 패턴
SiC 웨이퍼의 씨닝 가공
패턴 SiC 웨이퍼 가공의 예
연삭 웨이퍼의 두께 변화(SiC 6인치 웨이퍼)
:um
※TV5:1um≧ 연삭 후
연삭 후의 조도 비교(SiC 6인치 웨이퍼)
고강성 그라인더 사용으로 두께
변화/표면조도 향상.
※기존 그라인더로 표면조도 향상.
당사는 독자 개발한 기술을 통해 원스 톱 사파이어 웨이퍼 가공(웨이퍼 연삭, 연마, RCA 세정)을 제공하고 있는
기업 중 하나입니다.
기존 반도체 툴과 장비를 활용해 사파이어 웨이퍼 가공 기술을 개발하는데 성공한 당사의 공정은 사파이어 부문에 사용되고
있는 기존 장비에 비해 처리량, 조도, 웨이퍼 사이즈의 유연성에서 뛰어난 실적을 올리고 있습니다.
● 전반사 형광 X선 표면분석장치 TREX610
측정 가능한 금속: 12 원소(S, Cl, K, Ca, Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu,
Zn)
● Candela CS20 웨이퍼 표면 검사기
웨이퍼 크기:3, 4, 5, 6인치
두께:300–1400 μm
■ 자동
스크럽 세정 장치
■ 새 장치:
연마 후 잔류물이 알칼리성인 경우에는 흠집이나 파티클 발생의 원인이 됩니다. 자연산화막으로 코팅하기 전에 이러한 잔류물을
제거하는 것이 연마 기술의 핵심입니다.
당사의 기존 공정에서는 오퍼레이터가 수동으로 스크러빙을 실시해 웨이퍼를 한장씩 세정합니다. 현재는 인적 오류와 품질의
편차를 줄이기 위해 자동화된 세정 장비를 도입하는 등 품질 안정에 성공했습니다.
■웨이퍼 크기:4, 5, 6, 8인치
■두께:~ 100μm
■패턴 웨이퍼, MEMS 웨이퍼 등 SOI 웨이퍼
글라스 서포트 웨이퍼 등에도 대응 가능 。
● 자동 스크럽 세정 장치
고도의 세정 품질
● 자동 스크럽 세정 장치
웨이퍼 크기:4, 5, 6, 8인치 대응
석영, SiC 웨이퍼에도 효과적.
■
사파이어 웨이퍼 처리
기존 공정
롯코 공정
다이아몬드 랩핑
연마, CMP(배치)
연삭
연마, CMP
운영 비용
높음
(메탈 휠+다이아몬드)
중간
(패드+슬러리)
중간
(다이아몬드 휠)
중간
(패드+슬러리)
요구되는 수준의 가공 기
높음
중간
높음
높음
설비 비용
높음
중간
높음
높음
가공속도
매우 낮음
낮음
중간
중간
비고
"왁스 마운팅
랩핑 테이블 조정의 어려움,
높은 가공수 필요"
"왁스 마운팅
랩핑 테이블 조정의 어려움,
높은 가공수 필요"
"진공 처킹 시스템
자동 사파이어 연삭기"
왁스리스 폴리싱
■
사파이어 웨이퍼 세정 후 파티클 측정 결과
150mm사파이어
웨이퍼 세정 후 파티클 측정 결과
세정 전
스크럽 세정
RCA 세정
1.스크럽 세정은 큰 사이즈의 파티클 제거에 효과적.
2.RCA 세정 후 파티클과 오염 제거.
3.10pieces≧0.3um